Японские исследователи провели своеобразный краш-тест ноутбука Sony VAIO серии Z. Компьютер тестировался на устойчивость к падению примерно с полуметровой высоты на ровную твердую поверхность.

Несмотря на внешнюю целостность и работоспособность опытного образца после падения, нет никаких гарантий, что все узлы остались в полной целостности.